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计量学报  2015, Vol. 36 Issue (1): 6-9    DOI: 10.3969/j.issn.1000-1158.2015.01.02
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248 nm紫外显微镜微纳线宽校准方法的研究
李琪1,李伟1,施玉书1,高思田1,李适1,王鹤群1,尹传祥1,2
1.中国计量科学研究院, 北京 100029;
2.合肥工业大学 仪器科学与光电工程学院,  安徽 合肥 230009
The Research of Nanometer Linewidth Calibration Method Used by 248 nm Ultraviolet Microscope
LI Qi1,LI Wei1,SHI Yu-shu1,GAO Si-tian1,LI Shi1,WANG He-qun1,YIN Chuan-xiang1,2
1. National Institute of Metrology,  Beijing  100029,  China;
2.Hefei University of Technology,   Hefei,  Anhui  230009, China
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