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计量学报  2023, Vol. 44 Issue (4): 549-554    DOI: 10.3969/j.issn.1000-1158.2023.04.09
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SiO2-SiNX体系光学谐振腔对Ti超导薄膜特性的研究
刘海燕1,孙潇莹2,3,李劲劲2,王雪深2,陈建2,高鹤2,周哲海1,徐骁龙2
1.北京信息科技大学 机械行业现代光电测试技术重点实验室, 北京 100192
2.中国计量科学研究院,北京 100029
3.沈阳化工大学,辽宁 沈阳 110142
Research on the Properties of Ti Superconducting Thin Films in SiO2-SiNx System Optical Resonator
LIU Hai-yan1,SUN Xiao-ying2,3,LI Jing-jing2,WANG Xue-shen2,CHEN Jian2,GAO He2,ZHOU Zhe-hai1,XU Xiao-long2
1. Beijing Information Science and Technology University, Beijing 100192, China
2. National Institute of Metrology, Beijing 100029, China
3. Shenyang University of Chemical Technology, Shenyang, Liaoning 110142, China
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