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计量学报  2023, Vol. 44 Issue (7): 1059-1063    DOI: 10.3969/j.issn.1000-1158.2023.07.08
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电学法热阻测试切换误差评估方法研究
李灏,刘岩,翟玉卫,丁晨,丁立强,吴爱华
中国电子科技集团公司第十三研究所,河北 石家庄 050051
The Research on Method for Evaluating the Switching Error in Electrical Thermal Resistance Test
LI Hao,LIU Yan,ZHAI Yu-wei,DING Chen,DING Li-qiang,WU Ai-hua
The 13th Research Institute, CETC, Shijiazhuang,Hebei 050051, China
全文: PDF (16914 KB)   HTML (1 KB) 
输出: BibTeX | EndNote (RIS)      
摘要 半导体器件电学法热阻测试过程中,电流切换带来的误差是影响测试准确性的重要原因,且该误差目前尚无有效方法评估。在对误差原理分析基础上,设计了“双芯片”测试回路结构避免电流切换,得到不含切换误差的结温参考量值,实现了对仪器测试结果的有效评估。结果显示,该方法能够对热阻测试仪切换过程误差进行定量评估,在热阻测试仪计量方面具有较好的实际意义。
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作者相关文章
李灏
刘岩
翟玉卫
丁晨
丁立强
吴爱华
关键词 计量学结温测试电流切换双芯片回路    
Abstract:During the semiconductor device electrical method thermal resistance testing process, the error caused by current switching is an important factor affecting the accuracy of measurement, which could not be evaluated effectively now.On the basis of error principle analysis, a double-chip circuit was designed to avoid current switching, and a junction temperature reference value without switching error was obtained, achieving effective evaluation of instrument testing results. The results show that this method can quantitatively evaluate the switching process error of thermal resistance testers, and has good practical significance in measuring thermal resistance testers.
Key wordsmetrology    junction temperature test    current switching    double-chip circuit
收稿日期: 2022-01-06      发布日期: 2023-07-17
PACS:  TB94  
  TB973  
通讯作者: 吴爱华(1980-),河北张家口人,中国电子科技集团公司第十三研究所高工(研究员级),主要研究方向为无线电计量。Email:aihua.wu@139.com     E-mail: aihua.wu@139.com
作者简介: 李灏(1989-),河北辛集人,中国电子科技集团公司第十三研究所工程师,主要研究方向为电磁计量。Email:lh3810@163. com
引用本文:   
李灏,刘岩,翟玉卫,丁晨,丁立强,吴爱华. 电学法热阻测试切换误差评估方法研究[J]. 计量学报, 2023, 44(7): 1059-1063.
LI Hao,LIU Yan,ZHAI Yu-wei,DING Chen,DING Li-qiang,WU Ai-hua. The Research on Method for Evaluating the Switching Error in Electrical Thermal Resistance Test. Acta Metrologica Sinica, 2023, 44(7): 1059-1063.
链接本文:  
http://jlxb.china-csm.org:81/Jwk_jlxb/CN/10.3969/j.issn.1000-1158.2023.07.08     或     http://jlxb.china-csm.org:81/Jwk_jlxb/CN/Y2023/V44/I7/1059
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