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计量学报  2022, Vol. 43 Issue (7): 934-939    DOI: 10.3969/j.issn.1000-1158.2022.07.15
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微小电容测量仪500fF/1MHz溯源方法研究
乔玉娥1,刘霞美1,金攀2,丁晨1,任宇龙1,吴爱华1,徐燕军2
1.中国电子科技集团公司第十三研究所,河北 石家庄 050051
2.成都开谱电子科技有限公司,四川 成都 610041
Research on Traceability Method of Micro Capacitance Measuring Instrument at 500fF/1MHz
QIAO Yu-e1,LIU Xia-mei1,JIN Pan2,DING Chen1,REN Yu-long1,WU Ai-hua1,XU Yan-jun1
1. The 13th Research Institute of  China Electronics Technology Group Corporation, Shijiazhuang, Hebei 050051,
China
2. Chengdu Kaipu Electronic Technology Co., Ltd, Chengdu, Sichuan 610041, China
全文: PDF (1796 KB)   HTML (1 KB) 
输出: BibTeX | EndNote (RIS)      
摘要 fF量级高频微小电容测量在军工电子产品领域有着重要作用,针对微小电容测量仪500fF/1MHz点无法溯源的现状,研制了惰性气体封装的500fF高频标准电容器作为传递标准。建立高频小电容测量模型,基于“反算法”估算出500fF高频标准电容器分布参数,称作“理论推导”溯源方案,不确定度优于0.15%;利用3台同等量级的高频微小电容测量传递标准,称作“计量比对”溯源方案,不确定度优于0.07%。利用以上2种方案对同1台仪器开展溯源,实验数据结果基本一致,能够满足用户使用要求,为更低容值、更高频率的微小电容的溯源提供了可参考的路径。
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乔玉娥
刘霞美
金攀
丁晨
任宇龙
吴爱华
徐燕军
关键词 计量学微小电容传递标准高频标准电容器反算法计量比对    
Abstract:Micro capacitance measuring instrument in fF level has an important role in Military electronic products.In order to solve the no traceability problem of micro capacitance measuring instrument at 500fF/1MHz, a high frequency 500fF standard capacitor encapsulated with inert gas was manufactured as transfer standard.A measurement model of micro capacitance with high frequency was established, and the distributed parameter was estimated using “subjunctive” method.In the end, the uncertainty of a traceability method called “theoretical deduction” achieves 0.15%.Using three micro capacitance measuring instruments in the same level, the uncertainty of a traceability method called “measurement comparison” achieves 0.07%.The two kinds of traceability methods were used to calculate the same instrument, and the test results showed the same effect, which can satisfy users requirements.The above two traceability methods give an effective way for micro capacitance measurement in high frequency with lower capacitance.
Key wordsmetrology    micro capacitance    transfer standard    high frequency standard capacitor    subjunctive method    measurement comparison
收稿日期: 2020-10-27      发布日期: 2022-07-18
PACS:  TB971  
通讯作者: 吴爱华(1980-),河北张家口人,中国电子科技集团公司第十三研究所高工(研究员级),主要从事无线电计量研究。Email:aihua.wu@139.com     E-mail: aihua.wu@139.com
作者简介: 乔玉娥(1980-),女,河北石家庄人,中国电子科技集团公司第十三研究所高工,主要从事电磁计量、在片电学参数测试。Email:13673237960@126.com
引用本文:   
乔玉娥,刘霞美,金攀,丁晨,任宇龙,吴爱华,徐燕军. 微小电容测量仪500fF/1MHz溯源方法研究[J]. 计量学报, 2022, 43(7): 934-939.
QIAO Yu-e,LIU Xia-mei,JIN Pan,DING Chen,REN Yu-long,WU Ai-hua,XU Yan-jun. Research on Traceability Method of Micro Capacitance Measuring Instrument at 500fF/1MHz. Acta Metrologica Sinica, 2022, 43(7): 934-939.
链接本文:  
http://jlxb.china-csm.org:81/Jwk_jlxb/CN/10.3969/j.issn.1000-1158.2022.07.15     或     http://jlxb.china-csm.org:81/Jwk_jlxb/CN/Y2022/V43/I7/934
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