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计量学报  2022, Vol. 43 Issue (6): 811-817    DOI: 10.3969/j.issn.1000-1158.2022.06.16
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基于MCNP的X光机模拟及足跟效应修正
严永强1,3,吴金杰3,金尚忠1,2,赵瑞3
1.中国计量大学光学与电子科技学院,浙江 杭州 310018
2.浙江省现代计量测试技术及仪器重点实验室,浙江 杭州 310018
3.中国计量科学研究院,北京 100029
Simulation of X-ray Machine and Correction of Heel Effect Based on MCNP
YAN Yong-qiang1,3,WU Jin-jie3,JIN Shang-zhong1,2,ZHAO Rui3
1. School of Optical and Electronic Technology, China Jiliang University, Hangzhou, Zhejiang 310018, China
2. Key Laboratory of Zhejiang Province on Modern Measurement Technology and Instrument,  Hangzhou, Zhejiang 310018, China; 3. National Institute of Metrology, Beijing 100029, China
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