首页   |    期刊介绍   |    编 委 会   |    投稿指南   |    期刊订阅   |    统合信息   |    联系我们
计量学报  2020, Vol. 41 Issue (12): 1505-1509    DOI: 10.3969/j.issn.1000-1158.2020.12.10
  力学计量 本期目录 | 过刊浏览 | 高级检索 |
压缩热效应对单晶硅密度测量的影响
钟家栋1,2,孙斌1,赵玉晓1,马鑫钰1,2,张竟月2,张殿龙2
1.中国计量大学, 浙江 杭州 310000
2.中国计量科学研究院, 北京 100029
Density Measurement of Monocrystalline Silicon Based on Compression Heat Effect
ZHONG Jia-dong1,2,SUN Bin1,ZHAO Yu-xiao1,MA Xin-yu1,2,ZHANG Jing-yue2,ZHANG Dian-long2
1. China Jiliang University, Hangzhou, Zhejiang 310000, China
2.National Institute of Metrology, Beijing 100029, China
京ICP备:14006989号-1
版权所有 © 《计量学报》编辑部
地址:北三环东路18号(北京1413信箱)  邮编:100029 电话:(010)64271480
本系统由北京玛格泰克科技发展有限公司设计开发  技术支持:support@magtech.com.cn