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计量学报  2020, Vol. 41 Issue (4): 484-488    DOI: 10.3969/j.issn.1000-1158.2020.04.015
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新型量子霍尔电阻样品计量应用研究
蔡建臻, 黄晓钉, 潘攀
北京东方计量测试研究所,北京100086
Research in Measurement and Application of New Type Quantum Hall Resistance Sample
CAI Jian-zhen, HUANG Xiao-ding, PAN Pan
Beijing Orient Institute of Measurement and Test, Beijing, 100086, China
全文: PDF (1059 KB)   HTML (1 KB) 
输出: BibTeX | EndNote (RIS)      
摘要 采用AsGa砷化镓系材料研制了多种结构的新型量子霍尔电阻样品,介绍了该样品的特点及应用领域。使用常温电流比较仪和低温电流比较仪,用过渡比对法对新型的量子霍尔电阻与标准量子霍尔电阻样品进行了双重测量比对验证,在实验室内测量结果的相对偏差小于4×10-8,验证了新型的量子霍尔电阻样品和测量系统的准确度满足当前计量应用需求。
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作者相关文章
蔡建臻
黄晓钉
潘攀
关键词 计量学量子霍尔电阻过渡比对法常温电流比较仪不确定度    
Abstract:A new type Quantum Hall resistance (NQHR) sample of AsGa epitaxial wafer was developed. The NQHR sample has multi structures. The characters and application area were introduced. The NQHR sample was compared with standard Quantum Hall resistance(QHR) sample using transition comparison measurement method. In laboratory, the measured valve deviation between the two kinds of sample is less than 4×10-8. The experiment proved that the accuracy of NQHR sample and metrology system could satisfy the application of QHR Standard in resistance metrology.
Key wordsmetrology    Quantum Hall resistance    transition comparison measurement method    room temperature DC current comparator    uncertainty
收稿日期: 2019-05-19     
PACS:  TB971  
基金资助:国家国防科技工业局“十二五”技术基础项目(JSJL201403A009); 航天五院杰出青年人才基金
作者简介: 蔡建臻(1978-),男,吉林长春人,北京东方计量测试研究所高级工程师,博士,研究方向为电磁计量。
引用本文:   
蔡建臻, 黄晓钉, 潘攀. 新型量子霍尔电阻样品计量应用研究[J]. 计量学报, 2020, 41(4): 484-488.
CAI Jian-zhen, HUANG Xiao-ding, PAN Pan. Research in Measurement and Application of New Type Quantum Hall Resistance Sample. Acta Metrologica Sinica, 2020, 41(4): 484-488.
链接本文:  
http://jlxb.china-csm.org:81/Jwk_jlxb/CN/10.3969/j.issn.1000-1158.2020.04.015     或     http://jlxb.china-csm.org:81/Jwk_jlxb/CN/Y2020/V41/I4/484
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