EL红外缺陷测试仪关键参量校准方法研究

张可佳,张碧丰,熊利民,周桃庚,张俊超,孟海凤,蔡川,赫英威,李晓辉,王常世

计量学报 ›› 2018, Vol. 39 ›› Issue (2) : 246-250.

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计量学报 ›› 2018, Vol. 39 ›› Issue (2) : 246-250. DOI: 10.3969/j.issn.1000-1158.2018.02.22
光学计量

EL红外缺陷测试仪关键参量校准方法研究

  • 张可佳1,张碧丰2,熊利民2,周桃庚1,张俊超2,孟海凤2,蔡川2,赫英威2,李晓辉1,王常世1
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Research on Calibration Method Key Parameters of EL Infrared Defect Tester

  • ZHANG Ke-jia1,ZHANG Bi-feng2,XIONG Li-min2,ZHOU Tao-geng1,ZHANG Jun-chao2,MENG Hai-feng2,CAI Chuan2,HE Ying-wei2,LI Xiao-hui1,WANG Chang-shi1
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摘要

基于空间频率响应测试方法,搭建了EL红外缺陷测试仪关键参量的校准装置。分析了对焦以及位置摆放对分辨率校准结果的影响;给出了便携式和固定式EL红外缺陷测试仪相应的测试方法及操作流程。提出了一种针对便携式的测试方法,可以实现无参考背景情况下的校准工作。基于该校准装置可对各类EL测试仪的分辨率参数进行校准,测量结果重复性较好。

Abstract

Based on the spatial frequency response(SFR) test method, a calibration device for the critical parameters of the EL infrared defect tester was built.The effects of focusing and position placement on the resolution calibration are analyzed.For the portable and fixed EL tester, the corresponding test methods and operational procedures are given.A test method for portable EL tester is proposed, which can realize the calibration without reference background.Based on the above calibration device, the resolution parameters of various EL testers can be calibrated and the measurement results are reproducible.

关键词

计量学 / EL红外缺陷测试仪 / 空间频率响应 / 分辨率 / 校准

Key words

metrology / EL infrared defect tester / SFR / resolution / calibration

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张可佳,张碧丰,熊利民,周桃庚,张俊超,孟海凤,蔡川,赫英威,李晓辉,王常世. EL红外缺陷测试仪关键参量校准方法研究[J]. 计量学报. 2018, 39(2): 246-250 https://doi.org/10.3969/j.issn.1000-1158.2018.02.22
ZHANG Ke-jia,ZHANG Bi-feng,XIONG Li-min,ZHOU Tao-geng,ZHANG Jun-chao,MENG Hai-feng,CAI Chuan,HE Ying-wei,LI Xiao-hui,WANG Chang-shi. Research on Calibration Method Key Parameters of EL Infrared Defect Tester[J]. Acta Metrologica Sinica. 2018, 39(2): 246-250 https://doi.org/10.3969/j.issn.1000-1158.2018.02.22
中图分类号: TB96   

参考文献

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基金

国家863计划(2015AA050303); 国家国际科技合作专项(2015DFA60390); 中国计量科学研究院自筹基本科研业务费(23-AKY1712)

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