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计量学报  2025, Vol. 46 Issue (1): 69-74    DOI: 10.3969/j.issn.1000-1158.2025.01.11
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X射线超导转变边沿传感器超导薄膜研究
贾娥1, 李万2, 胡家昊2, 白海军1, 陈建3, 徐骁龙3, 郭思明3, 孙天宝3, 赵晓波3, 李劲劲3, 王雪深3
1.沈阳化工大学 信息工程学院, 辽宁 沈阳 110142
2.四川大学 物理学院, 四川 成都 610064
3.中国计量科学研究院 前沿计量科学中心, 北京 100029
The Research on the Superconducting Films for X-ray Superconducting Transition Edge Sensors
JIA E1, LI Wan2, HU Jiahao2, BAI Haijun1, CHEN Jian3, XU Xiaolong3, GUO Siming3, SUN Tianbao3, ZHAO Xiaobo3, LI Jinjin3, WANG Xueshen3
1.College of Information Engineering, Shenyang University of Chemical Technology, Shenyang, Liaoning 110142, China
2.College of Physics, Sichuan University, Chengdu, Sichuan 610064, China
3.Center for Advanced Measurement Science, National Institute of Metrology, Beijing 100029, China
全文: PDF (1944 KB)   HTML (1 KB) 
输出: BibTeX | EndNote (RIS)      
摘要 采用超高真空直流磁控溅射技术,分别制备了超导Mo薄膜和Mo/Au双层薄膜,研究了不同的溅射功率和溅射气压下薄膜的应力、粗糙度和超导转变温度的变化,实现了应力范围为-421 ~ 163 Mpa、粗糙度<1 nm、超导转变温度为1.06 ~ 1.10 K的Mo薄膜制备,并以此为基础制备了应力范围在-38 MPa至26 MPa之间,超导转变温度为80 ~ 350 mK的Mo/Au薄膜,为研制单能X射线超导转变边沿传感器(TES)提供了技术储备。
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关键词 电学计量超导转变边沿传感器磁控溅射超导薄膜Mo/Au双层薄膜单能X射线    
Abstract:Ultra-high vacuum DC magnetron sputtering technology was employed to fabricate both superconducting Mo films and Mo/Au bilayer films, The influence of varying sputtering powers and pressures on film stress, surface roughness, and superconducting transition temperature was investigated. The results for superconducting Mo films revealed a stress range from -421 MPa to 163 MPa, surface roughness below 1 nm, critical temperatures between 1.06 K and 1.10 K. For the Mo/Au films, the stress varied from -38 MPa to 26 MPa, with critical temperatures ranging from 80 mK to 350 mK. The developed Mo/Au bilayer film provides a technical reserve for the development of single-energy X-ray superconducting transition edge sensors(TES).
Key wordselectrical measurement    superconducting transition edge sensors    magnetron sputtering    superconducting film    Mo/Au bilayer films    single-energy X-ray
收稿日期: 2024-03-23      发布日期: 2025-01-14
PACS:  TB97  
基金资助:国家重点研发计划(2022YFF0608303);国家自然科学基金(12303101);中国科学院重大科技基础设施开放共享课题(2023-SECUF-PT-000535);中国计量科学研究院基本业务费(AKYZZ2115)
通讯作者: 王雪深(1984-),北京人,中国计量科学研究院副研究员,从事低温超导器件研究。 Email: wangxs@nim.ac.cn      E-mail: wangxs@nim.ac.cn
作者简介: 贾娥(1999-),甘肃会宁人,沈阳化工大学硕士研究生,研究方向为超导TES探测器。 Email: JE1304366943@163.com;
引用本文:   
贾娥, 李万, 胡家昊, 白海军, 陈建, 徐骁龙, 郭思明, 孙天宝, 赵晓波, 李劲劲, 王雪深. X射线超导转变边沿传感器超导薄膜研究[J]. 计量学报, 2025, 46(1): 69-74.
JIA E, LI Wan, HU Jiahao, BAI Haijun, CHEN Jian, XU Xiaolong, GUO Siming, SUN Tianbao, ZHAO Xiaobo, LI Jinjin, WANG Xueshen1.College of Information Engineering, Shenyang University of Chemical Technol. The Research on the Superconducting Films for X-ray Superconducting Transition Edge Sensors. Acta Metrologica Sinica, 2025, 46(1): 69-74.
链接本文:  
http://jlxb.china-csm.org:81/Jwk_jlxb/CN/10.3969/j.issn.1000-1158.2025.01.11     或     http://jlxb.china-csm.org:81/Jwk_jlxb/CN/Y2025/V46/I1/69
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