浅表X射线治疗水吸收剂量的电离室修正因子k ch测量研究

蒋鹏煊; 赵瑞; 杨智君; 张健; 吴金杰; 包俊霞; 丁卫撑

doi:10.3969/j.issn.1000-1158.2026.01.16

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计量学报 ›› 2026, Vol. 47 ›› Issue (1) : 132-140. DOI: 10.3969/j.issn.1000-1158.2026.01.16

生物计量

浅表X射线治疗水吸收剂量的电离室修正因子k _ch测量研究

蒋鹏煊 ¹^,² ,
赵瑞 ² ,
杨智君 ² ,
张健 ² ,
吴金杰 ² ,
包俊霞 ¹^,² ,
丁卫撑 ¹

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Measurement of the Chamber Correction Factor k _ch for Absorbed Dose to Water in Superficial Radiotherapy X-rays

JIANG Pengxuan ¹^,² ,
ZHAO Rui ² ,
YANG Zhijun ² ,
ZHANG Jian ² ,
WU Jinjie ² ,
BAO Junxia ¹^,² ,
DING Weicheng ¹

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摘要

为实现浅表X射线治疗水吸收剂量的精确测量，研究了PMMA模体中电离室修正因子k _ch的测量方法。在浅表X射线治疗辐射质下，基于不同孔径的钨合金限束光阑，研究了平板电离室PTW23342和PTW23344在空气中与PMMA模体表面测量的电离电荷读数之比变化；基于蒙特卡罗模拟，实现了背散射因子的确定；测量得到了不同电离室修正因子k _ch随半值层和辐射束大小的变化情况。测量结果表明：在SRT-50a、SRT-50b、SRT-70和SRT-100四个参考辐射质下，当源皮距为 0.45 m、辐射束大小为3.0~7.2 cm时，平板电离室PTW23342的空气与PMMA模体表面测量读数之比在0.870 0~0.991 3范围内，k _ch的测量结果在1.046~1.094范围内；平板电离室PTW23344的空气与PMMA模体表面测量读数之比在0.901 4~0.992 4范围内，k _ch的测量结果在1.053~1.108范围内。

Abstract

The purpose of this study is to investigate the methodology for determining the chamber correction factor k _ch and to calculate absorbed dose to water in superficial X-rays radiotherapy accurately. Under superficial X-ray radiotherapy reference radiation qualities with tungsten alloy collimators of varying apertures， this study analyzed the ratio of readings measured in air versus on the surface of a PMMA phantom measured by plane-parallel ionization chambers， PTW23342 and PTW23344. Backscatter factors were determined through Monte Carlo simulations， and the variations of the chamber correction factor k _chwith half value layers （HVLs） and radiation beam sizes were measured. Under the four reference radiation qualities （SRT-50a， SRT-50b， SRT-70 and SRT-100）， with an SSD （source to skin distance） of 0.45 m and radiation beam sizes of 3.0~7.2 cm. For the PTW23342 plane-parallel ionization chamber： the ratio of readings measured in air to those on the PMMA phantom surface with ranges from 0.870 0 to 0.991 3. The measured results of correction factor k _ch are within 1.046~1.094. For the PTW23344 plane-parallel ionization chamber： the ratio of readings measured in air to those on the PMMA phantom surface ranges from 0.901 4 to 0.992 4. The measured correction factor k _ch are within 1.053~1.108.

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蒋鹏煊, 赵瑞, 杨智君, 等. 浅表X射线治疗水吸收剂量的电离室修正因子k _ch测量研究[J]. 计量学报. 2026, 47(1): 132-140 https://doi.org/10.3969/j.issn.1000-1158.2026.01.16

JIANG Pengxuan, ZHAO Rui, YANG Zhijun, et al. Measurement of the Chamber Correction Factor k _ch for Absorbed Dose to Water in Superficial Radiotherapy X-rays[J]. Acta Metrologica Sinica. 2026, 47(1): 132-140 https://doi.org/10.3969/j.issn.1000-1158.2026.01.16

中图分类号： TB98

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